天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提供了產(chǎn)品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測(cè)試效率，并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護(hù)等級(jí)
不添加任何硬件設(shè)施既可升級(jí)分析功能，方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低
檢測(cè)時(shí)間短，可以大大提高工作效率

儀器應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)：
設(shè)備可以有效的對(duì)檢測(cè)、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩等重金屬污染：精度分析，微量金屬元素成分盡在掌握，選用自主研制的數(shù)字多道及原裝進(jìn)口分辨率探測(cè)器，提高設(shè)備的穩(wěn)定性及元素之間的相互干擾，并提高了元素的檢出限。

應(yīng)用領(lǐng)域
固廢快速檢測(cè)
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)
主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行、飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)
儀器配置
樣品平臺(tái)
信噪比增強(qiáng)器
SDD探測(cè)器
檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

工作原理
X熒光光譜ROHS檢測(cè)儀工作原理是由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線（一次射線），激勵(lì)被測(cè)樣品。樣品中的每一種元素會(huì)放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將控測(cè)系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，測(cè)試出待測(cè)產(chǎn)品的元素含量。
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng)，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng)，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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